ESD靜電放電測(cè)試，即Electrostatic Discharge，是一種模擬在電子設(shè)備或組件上因靜電或相關(guān)因素引起的放電現(xiàn)象的測(cè)試。這種測(cè)試旨在檢測(cè)電子設(shè)備或組件的抗靜電能力，以及在靜電放電事件中的性能和可靠性。中科檢測(cè)提供ESD靜電放電測(cè)試服務(wù)，具有CMA,CNAS資質(zhì)。

ESD靜電放電測(cè)試項(xiàng)目：

ESD模擬測(cè)試：模擬不同情況下的靜電放電，評(píng)估產(chǎn)品的充放電特性和對(duì)靜電干擾的抵抗能力。

VD測(cè)試：主要針對(duì)產(chǎn)品在使用過(guò)程中產(chǎn)生電器電磁干擾（EMI）和無(wú)線電頻率干擾（RFI）等問(wèn)題，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行評(píng)估和測(cè)試，判斷其有無(wú)適當(dāng)?shù)钠帘文芰涂闺姶鸥蓴_能力。

ESD靜電放電測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

ANSI/ESD S20.20：這是由美國(guó)靜電放電協(xié)會(huì)（ESDA）制定的標(biāo)準(zhǔn)，為靜電控制程序提供了一個(gè)全面的管理系統(tǒng)框架，包括人員接地系統(tǒng)、工作表面電阻率、防靜電包裝材料、工具以及檢測(cè)方法等。

IEC 61340-5-1：國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）發(fā)布的關(guān)于靜電防護(hù)的標(biāo)準(zhǔn)系列，其中第5-1部分主要針對(duì)靜電放電防護(hù)系統(tǒng)的建立與實(shí)施，規(guī)定了ESD敏感器件（ESDS）在生產(chǎn)、處理、存儲(chǔ)和運(yùn)輸過(guò)程中的保護(hù)要求。

MIL-STD-883H Method 3015：涵蓋了對(duì)微電子器件進(jìn)行人體模型（HBM,Human Body Model）、機(jī)器模型（MM,Machine Model）和Charged Device Model(CDM)靜電放電抗擾度試驗(yàn)的具體方法。

ISO 10605:2010(E)：國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)，提供了電子設(shè)備組件的人體模型（HBM）靜電放電試驗(yàn)方法。

JEDEC JESD22：半導(dǎo)體工程聯(lián)合體（JEDEC）發(fā)布了一系列ESD測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，例如JESD22-A114F針對(duì)集成電路的人體模型和機(jī)器模型靜電放電抗擾度試驗(yàn)。

ESD靜電放電測(cè)試流程：

準(zhǔn)備工作：在開(kāi)始測(cè)試之前，確定測(cè)試的設(shè)備是金屬還是非金屬材質(zhì)。一般來(lái)說(shuō)，金屬設(shè)備的測(cè)試電壓為+/-4、6、8KV，而非金屬設(shè)備的測(cè)試電壓為+/-2、4、6KV。

調(diào)節(jié)儀器：調(diào)節(jié)儀器。在測(cè)試前，需要將靜電放電試驗(yàn)方式選擇開(kāi)關(guān)撥到上方“CONTACT"位置，此時(shí)為接觸放電。當(dāng)需要空氣放電時(shí)，只能在“SINGLE"單次放電模式下進(jìn)行，且READY鍵不按上將無(wú)法計(jì)數(shù)。

結(jié)果分析：根據(jù)觀察和測(cè)量的結(jié)果，對(duì)待測(cè)物品進(jìn)行分析和評(píng)估。

報(bào)告撰寫：根據(jù)觀察和測(cè)量的結(jié)果，撰寫相應(yīng)的報(bào)告。報(bào)告中需要包括樣品的基本信息、觀察和測(cè)量的詳細(xì)過(guò)程、結(jié)果分析和評(píng)估等內(nèi)容。同時(shí)，需要確保報(bào)告的準(zhǔn)確性和完整性，以便為后續(xù)的評(píng)估和使用提供可靠的依據(jù)。